新款示波器探棒瞄准mV级电压测试

全新的探棒与示波器前端结合后，使其成为量测低至1mV/div毫伏特等级极小讯号的理想选择...

罗德史瓦兹(Rohde & Schwarz；R&S)推出衰减系数1:1的被动探棒R&S RT-ZP1X，再次拓展了R&S示波器的应用范畴。

R&S探棒与示波器的前端仅有极小的杂讯，两者结合使其成为量测低至1mV/div毫伏特等级极小讯号的理想选择，如积体电路和元件的电源完整性测试。

现阶段许多产业对于电源测试的要求明显增加，尤其在嵌入式设计领域，开发人员藉由整合愈来愈多的功能模组到极小空间来降低系统功耗；因此，电源完整性测试在相关应用中是至关重要的。开发人员及工程师需要测量电路中毫伏特范围的讯号，进而研究元件的杂讯特性。为了获得更准确的量测结果，一款具有合适灵敏度、低杂讯的探棒是不可或缺的。

新款R&S RT-ZP1X被动探棒能够和R&S RTE系列示波器(频宽达2GHz)及R&S RTO1000/2000系列示波器(频宽达4GHz)精准配合。该探棒搭配R&S RTE系列示波器，提供了电源完整性量测应用中最佳性价比的解决方案。即使在1MΩ输入阻抗的情况下，示波器的低杂讯前端亦可实现低于650μVpp的背景杂讯(1mV/div、频宽200MHz)。而一般示波器仅能在50Ω输入阻抗下才能达到相同等级的杂讯值。

藉由高达每秒一百万次的波形捕获率，使用者可快速地获得测量结果，完成长条图和其他讯号分析。在16位元高解析度的缩放模式下，也可针对最小的讯号细节进行分析与触发。

R&S RTE/RTO系列示波器基于硬体FFT可实现即时频谱分析，方便使用者查找耦合的干扰讯号。独特的区域触发功能可在时域和频域中透过图形化的设置分离出异常状况，并找出问题点。除了RTE和RTO之外，R&S RT-ZP1X被动探棒同样可支援RTM和HMO系列示波器。